【中國 (略) 】
招標(biāo)項目編號:0834-2441SH24A536
項目名稱: (略) 上海光學(xué)精密機(jī)械研究所掩模缺陷檢測設(shè)備
項目名稱(英文):Mask Defect Detection Equipment
招標(biāo)人: (略) 上海光學(xué)精密機(jī)械研究所
招標(biāo)機(jī)構(gòu): (略)
招標(biāo)方式:公開招標(biāo)
招標(biāo)結(jié)果:重新招標(biāo)
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“銷邦招標(biāo)”