技術規格及參數 | 1. 配單筒金相顯微鏡系統 1.1氣動移動支架:可以X/Y軸線性移動;移動范圍: * mm× * mm。Z方向氣動上升 * mm,精調范圍(調焦) * mm。 1.2 單筒金相顯微鏡大變倍比無極 * X變倍, (略) 5. * *3. * mm,工作距離 * mm,小于2.5um的光學分辨率; 1.3 包含HDMI高清CCD。2/3’感光cmos,提供無線控制傳輸,具有影像量測凍結比對存儲功能 1.4 包含LED同軸光源照明。 1.5具備顯微鏡橋接口, (略) 更換、升級顯微鏡。 2. 探針臺主機 2.1 針座放置平臺(Platen)可調節位移≥ * mm, 2.2針座放置平臺有 * 檔調節微調高度及緩降設計(防止更換樣品時,針尖與樣品劇烈碰撞),平臺 * 擋微調高度:0- * μm-3mm。標配可細分 * 、 * 、 * um抬升(滿足高倍率顯微鏡小PAD要求),并且具有機械和電氣互鎖保護設計和前置面板LED指示燈警示 2.3 最多可容納8組DC直流針座和4組RF射頻針座。 2.4提供微屏蔽系統,針對電磁屏蔽、光屏蔽以及交流低噪屏蔽等功能,同時具有高低溫環境屏蔽能力 3. 樣品臺 3.1 樣品臺基座提供氣動裝載和分離樣品,同時具有微調功能,前置面板操作 3.2 具有氣浮式樣品臺,可 * 鍵 * °全量程大范圍快速移動。同時提供真空底座吸附保證穩定可靠 3.3 樣品臺可微調角度±5°。分辨率0. * 度,真空吸槽范圍直徑 3, * , * , * , * , * , * , * , * mm,可多區域控制。 3.4 X/Y快速平臺移動范圍≥ * mm× * mm;微米級精細移動范圍≥ * mm× * mm,精度<1μm,Z軸氣動快速升降 * mm, (略) 程5mm,精度<1um; 3.5 前門面板設計具有安全鎖定INTER LOCK設計,滿足高壓已經未來高低溫設計 3.6樣品臺可以模塊化升級到高溫樣品臺或者高低溫樣品臺, (略) 改造更換,并且高低溫具有多檔選擇(- * 、- * 、- * 、 * 、 * 、 * 攝氏度)。 4. 配高精度探針座 4.1 自帶4組磁性吸附的直流探針座。 4.2 直流針座X/Y/Z 螺桿分辨率 ≤ * μm,在X/Y/ (略) 程≥ * mm。 4.3 直流針座微調精度<3μm。 4.4 高壓測試針桿支持3kv高壓測試,keisight * 軸接頭,采用德國PEEK雙層絕緣防護設計、L型設計無干擾點針,探針夾持棘爪鍍金(提供 * 、 * 、 * °探針夾持,滿足不同點針角度要求), * KV 4.5chuck 樣 (略) 加電極測試,高壓 * KV和脈沖 * A,配置高壓SHV線纜轉HV TRIAXIAL,通用keisight高壓儀表,樣品臺可加激勵偏置(@ * V Kelvin Triax (f) ,常溫漏電小于 * fA:漏電值 @ * V < 5 pA at * °C 5. 整體機臺具有ISO * 1、CE 、TUV認證 6. 低噪聲屏蔽系統: EMI 屏蔽 > * dB (typical) @ 1 kHz to 1 MHz 光衰減 ≥ * dB 光譜噪聲基底 ≤ - * dBVrms/rtHz (≤ 1 MHz) 系統交流電噪聲 ≤ * mVp-p (≤ 1 GHz) 支持高低溫環境控制測試 7. 配備主動式氣浮隔震臺,減震頻率3-5Hz,效率高達 * %以上,集成操作扶手,防止操作時觸碰到隔震臺臺面,配合進口氣浮傳感器,不銹鋼光學面板。 8. 整套系統包含 * 套壓縮空氣主機和真空泵主機 |